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臺式微區(qū)X射線熒光光譜儀M1 MISTRAL
臺式微區(qū)X射線熒光光譜儀
用于大件樣品與鍍層樣品的無損分析
無需任何準備即可分析任何形狀的樣品
M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品盒鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)Z=22（鈦）以上的所有元素。因此，它可以分析的物質范圍較廣，譬如金屬、合金、金屬鍍層，包括多層鍍層樣品。
樣品尺寸最大可達100100x100mm，無需任何處理，直接放在樣品臺上檢測。
光管位于樣品上方，測量過程中不接觸樣品，因此可以很容易地分析復式樣的樣品，如精工細作的珠寶或者不同厚度的樣品。
可以精確測量用戶的所需的位置
M1 MISTRAL的微焦斑X射線光管，即使光斑小到100μm也可以產(chǎn)生足夠的射線強度，光斑大小取決于所使用的準直器。
采用視頻顯微鏡進行準確定位，可以測量任何想測的位置。可選的計算機控制的自動樣品臺，并自動聚焦。
超快檢測系統(tǒng)，迅速產(chǎn)生結果
M1 MISTRAL可配有兩種不同的X射線探測器：大面積充氣正比計數(shù)器，可用于質量控制中的標準應用；或者配置硅漂移探測器，具有超快的檢測速度盒非常好的能量分辨率，檢出限可以達到0.01%（重量比）。先進的探測器，數(shù)字脈沖處理器及優(yōu)化的幾何結構，確保了X射線探測的最大效率，能夠快速地得到準確的分析結果。
易使用，免維護
M1 MISTRAL及XSpect軟件的設計，讓操作人員只需經(jīng)過簡單的培訓即可使用。
僅一個電源接口就可以運行儀器，采用空氣冷卻，無需消耗品。緊固的結構確保最高的穩(wěn)定性，并完全免維護。
珠寶及合金分析
M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品，不到1分鐘就可以確定其準確成分。分析結果可以用百分比或K(克拉)表示
測量RoHS檢測要求
高性能的M1 MISTRAL也可以測量RoHS指令限定的輕基體的痕量元素。直接控制電氣產(chǎn)品中有害元素的濃度。
測量鍍層樣品
采用X射線熒光技術的M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層多層。XSpect軟件采用無標樣基本參數(shù)法，可以同時計算鍍層厚度和鍍層組成。使用標準樣品可以進一步提高定量分析的準確性。
部分應用簡介
M1 MISTRAL的應用領域很廣，我們選擇3個常見的例子進行簡要介紹。
珠寶檢測
? 黃金
? 白金
? 鉑（Pt）合金
? 銀（Ag）合金
? 精度：優(yōu)于0.2wt%
可分析的多層鍍膜樣品
可以測定鍍層樣品的鍍層厚度及成分，例如：
? Zn-Fe
? Au-Ni-Cu
? Au-Pd-Ni-Fe
? CuSn-Ni-Cu
? Au-Pd-Ni-Cu
XSpect分析軟件
XSpect軟件具有以下功能：
? 儀器控制，數(shù)據(jù)采集與處理
? 譜峰識別
? 定量分析，采用無標樣法和基于標樣的經(jīng)驗系數(shù)法
? 鍍層樣品分析，可分析鍍層厚度和成分
? 采用基本參數(shù)法編輯特定鍍層的分析方法
? 報告輸出
參數(shù) M1 MISTRTALpc M1 MISTRTALSDD
元素分析范圍 Ti（22）-U（92） Na（11）-U（92）
激發(fā)源 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃視窗 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃視窗
電壓及功率 50kV，50W；可選40kV，40W 50kV，50W
探測器 大面積正比計數(shù)器，1100mm2感應面積 Peltier制冷高性能XFlash○R硅漂移探測器，30mm2感應面積，
對Mn-Ka能量分辨率<150eV
光斑尺寸 準直器：固定或4個自由切換，Φ0.1到Φ2 mm 準直器：固定或4個自由切換，Φ0.2到Φ2 mm
樣品觀察 高分辨率彩色攝像系統(tǒng)，放大倍率20-40倍 高分辨率彩色攝像系統(tǒng)，放大倍率20-40倍
樣品臺 馬達驅動Z方向樣品臺，自動對焦，
選項：馬達驅動X-Y-Z樣品臺便捷進樣功能 馬達驅動X-Y-Z樣品臺便捷進樣功能
定量分析 塊狀樣品：基于標樣的經(jīng)驗系數(shù)法模式和無標樣模式
鍍層分析：FP-基數(shù)參數(shù)法模式 塊狀樣品：基于標樣的經(jīng)驗系數(shù)法模式和無標樣模式
鍍層分析：FP-基數(shù)參數(shù)法模式
電源 110-230V AC；50/60 Hz，最大功率100W 110-230V AC；50/60 Hz，最大功率120W
尺寸
（寬ⅹ深ⅹ高） 550ⅹ700ⅹ430 mm 550ⅹ700ⅹ430 mm
重量 46 kg 50 kg
臺式微區(qū)X射線熒光光譜儀M1 MISTRAL