上海聯(lián)冠電子科技發(fā)展有限公司

新型號(hào)X射線熒光光譜儀JSX-3400R，是日本電子株式會(huì)社2006年6月的最新升級(jí)版能量色散型光譜儀，是一直以來受用戶好評(píng)的JSX-3202EV型基礎(chǔ)上，進(jìn)一步升級(jí)產(chǎn)品。該設(shè)備具有出眾性能指標(biāo)，不僅能很好對應(yīng)RoHS指令、ELV指令和其它環(huán)境指令相關(guān)元系分析，指令以外的一般元素也能在高感度下測試分析。
該儀器注重整體的平衡，可以用檢量線方法來精確測試金屬或非金屬中Cd、Pb、Hg、Cr、Br含量，用FP法來測試樣品中其他成分的含量，既精確分析了樣品中ROHS禁用物質(zhì)的含量，又可以全面分析樣品中各種成分百分比含量。高階的檢測器，極低的檢測極限，可以滿足比Sony標(biāo)準(zhǔn)更嚴(yán)的客戶管制標(biāo)準(zhǔn)。
　 X熒光技術(shù)具有快速、精確、無損的特點(diǎn)，可以應(yīng)用到很多的領(lǐng)域；比如： 電子行業(yè)、機(jī)械制造、醫(yī)療衛(wèi)生、生態(tài)研究、 冶金有色、食品工業(yè)和商業(yè)、珠寶首飾、地質(zhì)勘探、煤炭、造紙、建材行業(yè)、考古、商檢、電鍍行業(yè)、鋼鐵行業(yè)、石化、稀土、石英砂、金鋼砂、陶瓷等許多領(lǐng)域得到了越來越廣泛的應(yīng)用。
　 [詳細(xì)介紹]