探針,AFM探針,原子力顯微鏡探針

探針，AFM探針，原子力顯微鏡探針，veeco探針，Bruker探針


DNP-10
氮化硅探針
用于接觸式或輕敲模式或力的測量。
非套裝，適用于BioScope AFM 及 Dimension 系列SPM。
每個(gè)基片有4個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.06 - 0.58 N/m，共振頻率為18-65 KHz
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角(FA): 15 ± 2.5°
背面角(BA): 25 ± 2.5°
側(cè)面角 (SA): 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 20nm
針尖曲率半徑(Max): 60nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7µm
HMX-10
HarmoniX探針
用于納米材料樣品的屬性映射，標(biāo)準(zhǔn)樣品的硬度范圍在10MPa到10GPa之間。 HMX探針更適用于硬而粘的樣品表面。彈性系數(shù)2 N/m, 共振頻率為60 kHz, 鋁反射涂層
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
獨(dú)特的“離軸”設(shè)計(jì)，適用于Veeco HarmoniX模式，tr/fl=17N/m。
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 4 - 10µm
正面角(FA): 25 ± 2.5°
背面角(BA): 15 ± 2.5°
側(cè)面角(SA): 22.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 10nm
針尖曲率半徑(Max): 12nm
針尖縮進(jìn)(TSB)(Nom): 10µm
針尖縮進(jìn)范圍(TSB)(RNG): 5 - 15µm
MLCT
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低。
每個(gè)基片有6個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.01 - 0.50 N/m
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角 (FA): 15 ± 2.5°
背面角(BA): 25 ± 2.5°
側(cè)面角 (SA): 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 20nm
針尖曲率半徑(Max): 60nm
針尖縮進(jìn)(TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進(jìn)范圍(TSB)(RNG): 0 - 7µm
MLCT-EXMT-A1
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；
適用于Veeco Explorer 及 Caliber 原子力顯微鏡等；
每個(gè)基片有1個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.05 N/m
包裝數(shù)量：10根/盒；套裝
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角 (FA): 15 ± 2.5°
背面角 (BA): 25 ± 2.5°
側(cè)面角 (SA): 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 20nm
針尖曲率半徑(Max): 60nm
針尖縮進(jìn)(TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進(jìn)范圍(TSB)(RNG): 0 - 7µm
MLCT-MT-A
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；
適用于Veeco CP-II及 Innova 原子力顯微鏡等；
每個(gè)基片有1個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.05 N/m
包裝數(shù)量：10根/盒；套裝
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角 (FA): 15 ± 2.5°
背面角 (BA): 25 ± 2.5°
側(cè)面角(SA): 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 20nm
針尖曲率半徑(Max): 60nm
針尖縮進(jìn)(TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進(jìn)范圍(TSB)(RNG): 0 - 7µm
MLCT-O10
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；
無針尖設(shè)計(jì)，為用戶的特殊應(yīng)用提供了個(gè)性化的設(shè)計(jì)，如分子或粒子針尖；
每個(gè)基片有6個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.01 - 0.50 N/m
包裝數(shù)量：10根/盒


MLCT-UC
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；
每個(gè)基片有6個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.01 - 0.50 N/m，無涂層
包裝數(shù)量：10根/盒
注意：如果用戶沒有添加反射涂層的話不能用于探測成像或力測量。
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角 (FA): 15 ± 2.5°
背面角 (BA): 25 ± 2.5°
側(cè)面角 (SA): 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 20nm
針尖曲率半徑(Max): 60nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7µm
MPP-31123-10
Cont20: 彈性系數(shù)0.9N/m, 共振頻率20kHz, 旋轉(zhuǎn)針尖, 鋁反射涂層
適用于Innova /CP-II SPMs.
包裝數(shù)量：10根/盒；套裝
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 15 - 20µm
正面角 (FA): 15 ± 2°
背面角 (BA): 25 ± 2°
側(cè)面角 (SA): 17.5 ± 2°
針尖曲率半徑 (Nom): 8nm
針尖曲率半徑 (Max): 12nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 15µm
針尖縮進(jìn)范圍(TSB)(RNG): 5 - 25µm
MSCT
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；
每個(gè)基片有6個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.01 - 0.50 N/m，有銳化處理，
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角(FA): 15 ± 2.5°
背面角(BA): 25 ± 2.5°
側(cè)面角 (SA): 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 10nm
針尖曲率半徑(Max): 40nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7µm
MSNL-10
屬于 SNL (Sharp Nitride Lever)探針系列.
MSNL 探針將硅針尖的銳利和氮化硅懸臂的低彈性指數(shù)高靈敏度完美結(jié)合，在任何樣品任何媒介中都能得到一種前所未有的高分辨率和力量控制
每個(gè)基片有6個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.01 - 0.50 N/m，有銳化處理
包裝數(shù)量：10根/盒
探針參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角 (FA): 15 ± 2.5°
背面角 (BA): 25 ± 2.5°
側(cè)面角 (SA): 22.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 2nm
針尖曲率半徑(Max): 12nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7µm
NP-10
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式和力的測量
每個(gè)基片有4個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.06 - 0.58 N/m
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度(h): 2.5 - 8.0µm
正面角 (FA): 15 ± 2.5°
背面角 (BA): 25 ± 2.5°
側(cè)面角 (SA): 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 20nm
針尖曲率半徑(Max): 60nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進(jìn)范圍(TSB)(RNG): 0 - 7µm
NPG-10
用于接觸式、輕敲式和力的測量
每個(gè)基片有4個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.06 - 0.58 N/m， Au涂層針尖
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
針尖表面的黃金涂層使針尖功能化更容易 (如：使用硫醇化學(xué)).
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角 (FA): 15 ± 2.5°
背面角 (BA): 25 ± 2.5°
側(cè)面角 (SA): 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑(Nom): 30nm
針尖曲率半徑(Max): 90nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7µm
OBL-10
每個(gè)基片有2個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.006 - 0.03N/m，Au涂層針尖
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
針尖表面的黃金涂層使針尖功能化更容易 (如：使用硫醇化學(xué))..
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 5 - 10µm
正面角 (FA): 0 ± 1°
背面角 (BA): 45 ±1°
側(cè)面角 (SA): 45 ±1°
針尖曲率半徑(Nom): 30nm
針尖曲率半徑(Max): 40nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 0µm

RFESP
硅探針
彈性指數(shù)3N/m, 共振頻率75kHz, 旋轉(zhuǎn)針尖, 無涂層
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 15 - 20µm
正面角 (FA): 15 ± 2°
背面角 (BA): 25 ± 2°
側(cè)面角 (SA): 17.5 ± 2°
針尖曲率半徑 (Nom): 8nm
針尖曲率半徑 (Max): 12nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 15µm
針尖縮進(jìn)范圍 (TSB)(RNG): 5 - 25µm
RTESP
硅探針
彈性指數(shù)40N/m, 共振頻率300kHz, 旋轉(zhuǎn)針尖, 無涂層
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 15 - 20µm
正面角 (FA): 15 ± 2°
背面角 (BA): 25 ± 2°
側(cè)面角 (SA): 17.5 ± 2°
針尖曲率半徑(Nom): 8nm
針尖曲率半徑 (Max): 12nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 15µm
針尖縮進(jìn)范圍(TSB)(RNG): 5 - 25µm
SNL-10
Bruker's New Sharp Nitride Lever
將硅針尖的銳利和氮化硅懸臂的低彈性指數(shù)高靈敏度完美結(jié)合，在任何樣品任何媒介中都能得到一種前所未有的高分辨率和力量控制
每個(gè)基片有4個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.06 - 0.58N/m，銳化的硅針尖
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角 (FA): 15 ± 2.5°
背面角 (BA): 25 ± 2.5°
側(cè)面角(SA): 22.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑 (Nom): 2nm
針尖曲率半徑 (Max): 12nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 (TSB)(RNG): 0 - 7µm
TESP-SS
超尖探針，彈性指數(shù)42N/m, 共振頻率320kHz, 針尖曲率半徑2-5nm, 無涂層
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 (h): 10 - 15µm
正面角 (FA): 25 ± 2.5°
背面角 (BA): 15 ± 2.5°
側(cè)面角 (SA): 22.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑 (Nom): 2nm
針尖曲率半徑 (Max): 5nm
針尖縮進(jìn) (TSB)(Nom): 15µm
針尖縮進(jìn)范圍 (TSB)(RNG): 5 - 25µm