XEye x射線平板探測器

 XEye 擁有射線防護的X射線探測器
高圖像質量是可靠的工業(yè)產品的質量保證,即使是最小的缺陷區(qū)域也是檢測的關鍵。
XEye X射線探測器由德國Fraunhofer(弗勞恩霍夫)IIS實驗室開發(fā)研制，2006年8月連續(xù)7天8小時在225KV X射線輻照下連續(xù)工作運轉,圖像質量依然穩(wěn)定。XEye結合了高解析度和大成像區(qū)域 - 模塊化結構甚至允許成像區(qū)域任意增加。
XEye系列探測器已經成功 引入許多應用。特別是工業(yè)應用 全天候運行得益于XEye's穩(wěn)定的圖像質量和耐用性,應用在：
- 檢查輪胎
- 在線計算機斷層掃描
- 鑄件檢驗
- PCB檢測
- 高分辨率的計算機斷層掃描CT

探測器規(guī)格
像素尺寸為:100mm - 400 mm
成像區(qū)域:400mm x 200 mm ;200mm x 200 mm ;200 mm×50 mm可以定制
幀速率:4.5 - 50 FPS
曝光時間:1毫秒 - 2秒
觸發(fā)外部觸發(fā)，軟件觸發(fā)，自由運行
動態(tài)范圍（約）:
像素尺寸為400μm10.000：1@4.5 fps
7.000：1@9 FPS
5.000：1@16 fps
3.500：1@ 25 fps
像素尺寸為200μm5.000：1@4.5 fps
3.500：1@9 FPS
2.500：1@16 fps
像素大小為100μm2.500：1@4.5 fps
1.800：1@9 FPS
圖像滯后<0.1％
閃爍體PI200 DRZ高/加/標準 CAWO OG2/ OG8/ OG16
可以定制

環(huán)境 溫度:10°C至+40°C 無冷凝
電壓范圍:最大可達225kv,
電源:輸入230VAC輸出為24 VDC電源