IP5X IP6X 砂塵試驗(yàn)室 沙塵試驗(yàn)室 防塵試驗(yàn)室

一、IP5X IP6X 砂塵試驗(yàn)室 沙塵試驗(yàn)室 防塵試驗(yàn)室產(chǎn)品用途

a. 本試驗(yàn)箱用于低壓電器、電機(jī)、儀器、儀表、燈具、家用電器等產(chǎn)品，在儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用過(guò)程中往往會(huì)受到砂塵環(huán)境的影響。尤其是汽車(chē)、電器受砂塵的影響更為顯著。

b. 本設(shè)備采用人工模擬砂塵環(huán)境，來(lái)檢驗(yàn)試品對(duì)防塵能力的試驗(yàn)設(shè)備。本設(shè)備的基本結(jié)構(gòu)和原理及性能，本試驗(yàn)箱能滿足IEC-60529、ISO-20653、GB2423、DIN-40050、GB4706、GB4208、中家用電器、低壓電器、汽車(chē)、摩托車(chē)零部件外殼防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)要求，適用于電氣產(chǎn)品進(jìn)行第二位特征數(shù)字為“IP5X、IP6X”的防塵試驗(yàn)。

本裝置不能滿足GJB150中有風(fēng)源的砂塵試驗(yàn)。

二、設(shè)計(jì)參數(shù)

1. 工作室尺寸：按需定制

2. 溫度范圍： RT+10℃～60℃（加熱烤塵系統(tǒng)）；

3. 濕度范圍：≤85%RH；

4. 氣流速度：不超過(guò)2m/s

5. 粉塵濃度： 2～4kg/m³；

6. 粉塵規(guī)格： 能通過(guò)篩孔為75um,金屬絲直徑為50um的方孔干燥滑石粉；    

7. 振擊時(shí)間：1S-999H可調(diào)；

8. 吹塵時(shí)間：1S-999H可調(diào)；

9. 粉塵除濕：電加熱除濕；

10. 試驗(yàn)品壓力差：A 低于大氣壓1.98KPa 或 B無(wú)壓力差

11. 配有低于氣壓測(cè)試的抽氣及顯示測(cè)量系統(tǒng)；

12. 運(yùn)行方式：程序方式、定值方式；

13. 控制系統(tǒng)：嵌入式大屏液晶觸摸屏

14. 數(shù)據(jù)保存及打印

15. 引線孔：φ50 mm；帶密封膠堵。

16. 砂塵房?jī)?nèi)外室體：外層304砂面鋼板，

17. 安全保護(hù)：風(fēng)機(jī)過(guò)電流報(bào)警；電源缺相、相序保護(hù)；意外情況自動(dòng)停機(jī)并切斷電源。

18. 空載時(shí)要有溫濕度檢測(cè)系統(tǒng)，并帶有顯示功能。

19. 密封試驗(yàn)箱內(nèi)的粉末循環(huán)泵可用能使滑石粉懸浮的其他方法代替。滑石粉應(yīng)用金屬孔篩濾過(guò)。金屬絲直徑50μm，篩孔尺寸75μm。滑石粉用量為每立方米試驗(yàn)箱容積2kg，使用次數(shù)不得超過(guò)20次。應(yīng)能夠維持試驗(yàn)箱內(nèi)有足夠密度的均勻的懸浮塵。

20. 被試外殼放在試驗(yàn)箱內(nèi)，應(yīng)使殼內(nèi)壓力用真空泵保持低于大氣壓，也可改變?cè)囼?yàn)箱內(nèi)的氣壓實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)箱內(nèi)氣壓周期性變化。

21. 試驗(yàn)的目的是利用壓差把箱內(nèi)空氣抽入被設(shè)備內(nèi)，抽氣量為80倍被試外殼容積，抽氣速度每小時(shí)不超過(guò)60倍外殼容積。任何情況下壓差不得超過(guò)2kPa。

22. 儀器應(yīng)有緊急急停裝置，以確保試驗(yàn)異常時(shí)的安全。

23. 密封試驗(yàn)箱蓋（門(mén)）應(yīng)密封可靠，建議試驗(yàn)箱內(nèi)壁采用導(dǎo)電性材料，并且接地避免靜電積累。

24. 應(yīng)有試驗(yàn)后粉塵回收處理功能，設(shè)備的各項(xiàng)操作功能應(yīng)滿足標(biāo)準(zhǔn)GB4208-2008中的13.4條款要求。

三、砂塵試驗(yàn)室 沙塵試驗(yàn)室 粉塵試驗(yàn)室 設(shè)備安裝、測(cè)試使用環(huán)境要求：

1. 環(huán)境溫度為+25℃；

2. 相對(duì)濕度≤85%；

3. 大氣壓80kPa ~ 106kPa；

四、砂塵試驗(yàn)室 沙塵試驗(yàn)室 粉塵試驗(yàn)室 試樣限制

1. 禁止易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

2. 禁止腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

3. 禁止生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

4. 禁止強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存