微區(qū)X熒光能譜儀M4M6

    布魯克推出了新型微聚焦XRF—M6 JETSTREAM。M6 JETSTREAM是布魯克針對大樣品原位無損分析而開發(fā)的新產(chǎn)品。可移動(dòng)設(shè)計(jì)使得用戶可以隨意將M6 JETSTREAM移動(dòng)到自己感興趣的樣品前進(jìn)行分析，比如畫廊、博物館或者工作現(xiàn)場。M6 JETSTREAM可以實(shí)現(xiàn)800mmx600mm的大面積掃描，微束斑的直徑可低至100μm，掃描速度可達(dá)100mm/s。

 
M6 JETSTREAM特色應(yīng)用領(lǐng)域:
文物分析——能夠現(xiàn)場原位分析樣品，使用戶免去了搬運(yùn)樣品的麻煩，同時(shí)避免了在搬運(yùn)中對文物可能造成的損壞。

地球科學(xué)——可分析大鉆芯樣或者其他礦物樣品。

故障分析——可用于大部件樣品的缺陷篩查、不均勻性分析，以及其他感興趣的問題。

M6 JETSTREAM用于文物樣品檢測
主要特點(diǎn)：
1.M6 JETSTREAM不僅可以分析水平放置的樣品，還可以分析垂直放置的樣品。
2.在高激發(fā)強(qiáng)度以及樣品臺的快速移動(dòng)情況下，仍可實(shí)現(xiàn)快速檢測。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之內(nèi)，根據(jù)樣品結(jié)構(gòu)及所需空間分辨率調(diào)整到相應(yīng)的尺寸。
4.采用布魯克先進(jìn)的XFlash®硅漂移探測器，該探測器具有很高的計(jì)數(shù)率能力，在很寬的計(jì)數(shù)率范圍內(nèi)擁有最佳的能量分辨率。
5.特別的安全電路為用戶提供最佳的X射線輻射風(fēng)險(xiǎn)防范措施。
6.超聲波測距措施可以防止儀器與被測樣品發(fā)生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移動(dòng)性，不論樣品結(jié)構(gòu)如何，它都可以很容易的準(zhǔn)確定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于攜帶。

X射線熒光能譜儀M4 TORNADO

儀器簡介：
   微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的首選方法。采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡將激 發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域，以獲得極佳的空間分辨率，進(jìn)行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品制備甚至不制備直接進(jìn)行分析。

測定鍍層樣品厚度及成分

   采用X射線熒光技術(shù)的M4可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標(biāo)樣基本參數(shù)法，可以同時(shí)計(jì)算鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)一步提高定量分析的準(zhǔn)確性

RoHS檢測

    測量一個(gè)PCB樣品。u安蘇的面分布圖顯示了下列元素的分布情況：Br(綠色）、Cu（紅色）、Au（黃色）、Pb（白色）和Sn（粉紅色）

圖像的原始大小：250×75像素

測量時(shí)間：0.15s/像素

 

主要特點(diǎn)：
  M4 TORNADO采用了全新的技術(shù)，為各種用戶提供了最佳的分析性能和非常方便的操控性。
  采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡，照射光斑最小，空間分辨率最高。
  渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得高品質(zhì)的樣品影像，可在“飛行中”進(jìn)行元素分布分析。

  高強(qiáng)度的X射線光管與多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡相結(jié)合，確保在非常小的照射區(qū)域內(nèi)獲得非常高的激發(fā)強(qiáng)度。采用濾光片和可以同時(shí)使用的配有不同靶材的雙光管，可以根據(jù)不同的分析要求，優(yōu)化激發(fā)光譜。
  使用XFlash®探測器超高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個(gè)探測器可以進(jìn)一步提高測量速度。
采用無標(biāo)樣分析法精確定量分析塊狀樣品，精確分析多層膜樣品。

  可抽真空的樣品室配有自動(dòng)門，大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個(gè)放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)觀察樣品（整體觀察和分析區(qū)域的細(xì)致觀察），便捷進(jìn)樣功能和自動(dòng)對焦功能可以進(jìn)行快速而精確的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品臺運(yùn)行程序可實(shí)現(xiàn)重復(fù)測量。