萬深PhenoGA植物表型分析測(cè)量?jī)x

一、概述：

基因型、表型和環(huán)境是遺傳學(xué)研究的鐵三角。表型（性狀）是基因型和環(huán)境共同作用結(jié)果，而基因型與表型之間有著多重關(guān)系。研究者用測(cè)序和基因組重測(cè)序來評(píng)估等位基因差異定位數(shù)量性狀等已變得很普遍，但其需大量性狀數(shù)據(jù)來佐證。然而這類分析測(cè)量的結(jié)果受人員、工具和環(huán)境等的干擾很大，還會(huì)損傷到植物。故迫切需要高效、準(zhǔn)確的萬深PhenoGA植物表型分析測(cè)量?jī)x來做可視化的精確數(shù)據(jù)分析和表型測(cè)試，如測(cè)試對(duì)壓力和環(huán)境因素的表型反應(yīng)、生態(tài)毒理學(xué)測(cè)試或萌發(fā)測(cè)定、生長(zhǎng)研究等。

二、主要性能指標(biāo)：

1、萬深PhenoGA植物表型分析測(cè)量?jī)x由側(cè)面的可見光相機(jī)（具有微距拍攝特性的自動(dòng)對(duì)焦大景深800萬像素彩色拍攝儀）獲取植物側(cè)面的RGB彩色圖；由頂部的主動(dòng)紅外雙目3D相機(jī)（點(diǎn)云密度512*424像素，尺寸自動(dòng)標(biāo)定）來獲取植物冠層的3D景深偽彩色圖和3D重建偽彩色圖，以及RGB彩色圖（1080p高清視頻格式），并做自動(dòng)分析。

2、可獲得植物在不同生長(zhǎng)階段的表型數(shù)據(jù)主要有：植株高（測(cè)量誤差≤±1.5mm）、葉面積及其差異值、葉片長(zhǎng)和卷曲度、葉冠層的3D構(gòu)型數(shù)據(jù)（葉冠幅、葉片分布和密度、葉對(duì)稱性、葉傾角等，冠層尺寸的測(cè)量誤差≤±2mm）、株形、莖葉夾角、節(jié)間長(zhǎng)度及其空間體積估算值、株高和葉冠層隨時(shí)間改變的相對(duì)生長(zhǎng)速率、葉色平均值（具有按英國(guó)皇家園林協(xié)會(huì)RHS比色卡的比色特性）及其對(duì)表征的貢獻(xiàn)評(píng)估等。

3、可接入條碼槍來自動(dòng)刷入樣品編號(hào)，具有按條碼標(biāo)識(shí)跟蹤分析的特性。圖像分析方式和耗時(shí)：自動(dòng)分析（約1個(gè)樣品 /分鐘）+鼠標(biāo)指示測(cè)量或修正。成像分析的植株高可達(dá)100cm（莖稈基部距頂部3D相機(jī)約135cm，植株距側(cè)面拍攝儀約100cm）、葉冠幅可達(dá)100cm*80cm（拍攝箱外尺寸160cm高*120cm長(zhǎng)*80cm寬）。