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公司基本資料信息
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加快材料研究的突破性進展，您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 臺式掃描電鏡引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過改進光路設(shè)計，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升，易于操作，元素分析更快速。
研究樣品時，得到樣品的形貌信息只是解決了一半問題。獲得樣品的元素組分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊設(shè)計的能譜探測器，飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 可以完善解決上述所有問題。
能譜儀是一種基于樣品被電子束激發(fā)而產(chǎn)生 X 射線的分析儀器。Phenom 的能譜儀無論軟件、硬件都是完全集成設(shè)計在飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 系統(tǒng)中。
Element Identification (EID) 軟件可以使用戶實現(xiàn)多點分析，檢測樣品的元素組分。此外，該軟件還可以擴展到元素分析線面掃（mapping）功能。分步操作界面可以幫助用戶更方便地收集、導出分析數(shù)據(jù)。
Phenom ProX 主要技術(shù)參數(shù)
| 電子放大 | 高 350,000 X |
| 分辨率 | 優(yōu)于 6 nm |
| 光學導航相機 | 彩色 |
| 加速電壓 | 4.8 kV - 20.5 kV 連續(xù)可調(diào) |
| 真空模式 | 標準模式 降低荷電效應(yīng)模式 |
| 探測器 | 背散射電子探測器 |
| 樣品尺寸 | 大直徑 32 mm |
| 樣品高度 | 高 100 mm |
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